基于MC56F8155VFGE的智能测试系统

　　随着电子、电器类产品在社会生活中的普及，国内众多中小企业也纷纷开始自行研制，生产此类产品以满足市场的需求，但由于中小企业人力、物力的局限，往往将主要经历放在了产品的生产上，而对于产品的出厂检测却不够完善，智能测试系统可以很好地帮助企业提高产品检测的效率。

 

 

　　MC56F8155VFGE是一款80C51微控制器，包含32KB+8KB FLASH和256+768B的数据RAM。MC56F8155VFGE的典型特性是他的×2方式选项，利用该特性，设计者可使应用程序以传统的80C51时钟频率（每个机器周期包含12个时钟）或×2方式（每个机器周期包含6个时钟）的时钟频率运行。

 

 

　　FLASH程序存储器支持传统的并行编程，也支持串行在系统编程（ISP）。ISP允许在软件控制下对成品中的器件进行重复编程，MC56F8155VFGE也可采用在应用中编程（IAP），允许随时对两片FLASH程序存储器重新配置，即使应用程序正在运行时也不例外。

 

 

　　本智能测试系统以MC56F8155VFGE为核心，可以进行更深入的开发。目前正在进行二期开发，拟将智能测试系统引入老化测试和出厂序列号管理，开发成功后，将可大大完善系统的性能、提高系统的适用范围。

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